X-RAY测厚仪-测厚仪-X射线测厚仪

这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，X射线测厚仪，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名专家通力合作，X-RAY测厚仪，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。

荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素量分析。但是由于影响荧光X射线的强度的因素较多，除待测元素的浓度外，仪器校正因子，待测元素X射线荧光强度的测定误差，元素间吸收增加效应校正，样品的物理形态（如试样的均匀性、厚度，表面结构等）等都对定了分析结果产生影响。由于受样品的基体效应等影响较大，因此，对于标注样品要求很严格，只有标准样品与实际样品集体和表面状态相似，才能保证定量结果的准确性。

江苏一六仪器    X射线荧光镀层测厚仪 为大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析提供解决方案

X射线荧光光谱测厚仪操作流程:

1.打开仪器电源 开关

2.打开测试软件

3.联机

4.打开仪器高压钥匙，测厚仪，观察软件界面管流值不为0值且正常上升至1000左右

5.待机30分钟

6.打开测试腔放入标准元素片Ag，通过调整移动平台滑轨和焦距旋钮使软件测试画面清晰

7.点击峰位校正图标按照提示进行操作

8.根据已知样品信息新建（或选择）合适的产品程式

9.点击资料图标，根据客户需求调整相关测量参数

进而达到测试要求位置

11.调整焦距：使用仪器左侧焦距调整旋钮，使得软件测试画面尽可能清晰

12.开始测量：点击开始测试图标，进行样品测试或者按动仪器前面板测试按钮进行样品测试

13.数据报告：对测量的数据结果进行对比和分析，判断数据是否正常，若出现异常可进行多次测量排除偶然误差

14.生成报告：点击预览报告可以对测试报告内容和格式进行调整，还可以电子版保存报告和直接打印纸质报告

15.整理反馈：对测试结果进行分析和整理，可通过给出测试报告的形式与客户进行沟通和反馈