镀层测厚仪品牌-测厚仪-测厚仪价格

   江苏一六仪器有限公司  专业镀层测厚检测   欢迎来电详询！ 

  X射线荧光光谱分析可以非破坏性同时完成组分和厚度测试，x-ray测厚仪，厚度的测量范围视材料和元素而定，通常在1nm-50um之间。X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较，被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关，而且与厚度直接相关。能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法，测厚仪，具有无需对样品进行特别的化学处理、快速，方便，测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用最为广泛，具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。

一六仪器  X荧光光谱测厚仪

镀层分析X射线荧光光谱特点

     1.镀层分析快速、无损，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟，分析精度高。

     2.可测试超薄的镀层。

     3.可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。

     4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定，选择合适的对比分析样品，就可以准确的分析出合金镀层的厚度。

     5.对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。

     6.对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别

     7.不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。

     8.可以对极小样品进行测试

     9.属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样

江苏一六仪器  专业涂镀层研发、生产、销售高新技术企业。其中稳定的多道脉冲分析采集系统、先进的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

单镀层：Zn， Ni，镀层测厚仪品牌，Cr，Cu，Ag，镀层测厚仪，Au，Sn等。

双镀层：Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

三镀层：Au/Ni/Cu/ABS，Au/Ag/Ni/Cu， Au/Ni/Cu/Fe，等等

一、功能

1. 采用 X 射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足

GB/T 16921-2005 标准（等同 ISO3497：2000、 ASTM B568 和 DIN50987）。

2.  镀层层数：多至 5 层。

3. 测量点尺寸：圆形测量点，直径约 0.2—0.8毫米。

4. 测量时间：通常 30 秒。

5. 测量误差：通常小于 5%，视样品具体情况而定。

6. 可测厚度范围：通常 0.01 微米到 30 微米，视样品组成和镀层结构而定。