合金测厚仪-锌镍合金测厚仪-测厚仪

江苏一六仪器   X射线荧光镀层测厚仪

仪器简介

      XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。

    搭配微聚焦射线管和先进的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。

    检测78种元素镀层·0.005um检出限·测量面积可达0.002mm2·最深凹槽可达90mm。

     外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，合金测厚仪，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都没有难度，让操作人员轻松自如。

  线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

  镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

  手表、精密仪表制造行业

  钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

  汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

  卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

  电镀液的金属阳离子检测

一六仪器 专业测厚仪 多道脉冲分析采集，先进EFP算法  X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

镀层厚度分析仪的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，测厚仪，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆

层测厚时采用。

江苏一六仪器   X射线荧光光谱测厚仪原理

一个内层电子而出现一个空穴，三元合金测厚仪，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。

它的能量是特征的，凹槽测厚仪，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。 K层电子被逐出后，其空穴可以被外层中 任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为K系谱线:由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线，由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。