一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
选择Elite(一六仪器)X射线荧光镀层测厚仪理由:
根据IPC规程,必须使用整块的标准片来校正仪器,对于多镀层的测量,目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正,比如测量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因为测量点很小,测量距离的变化对测量结果有较大影响,如果使用Au,Pd,Ni三种箔片叠加校正,校正的时候箔片之间是有空气,并且Pb元素与空气的频谱重叠,以上会对测量结果产生较大影响,Elite(一六仪器)测厚仪有电镀好的整块的Au/Pd/Ni/Base标准片,不需要几种箔片叠加校正,可以确保镀层测量的准确性。
2、采用微聚焦X射线管,油槽式设计,工作时采用油冷,长期使用时寿命更长。微聚焦X射线管配合比例接收能实现高计数率,可以进行高精度测量。
3、Elite(一六仪器)WinFTM专用软件,具有强大且界面友好、中英文切换,最多可同时测量23层镀层,24种元素,测量数据可直接以WORD格式或EXCEL格式输出、打印、保存。采用基本参数法(FP),有内置频谱库,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。
4、 Elite(一六仪器)针对PCB(印制电路板)线路板上的镀层厚度及分析而设计的X射线荧光测厚仪(XDLM-PCB200/PCB210系列)具有以下特点:1)工作台有手动和程序控制供客户选择,2)采用开槽式设计和配置加长型样品平台,用于检测大尺寸的线路板。
一六仪器 专业测厚仪 多道脉冲分析采集,先进EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
镀层厚度分析仪的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测厚仪排名,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆
层测厚时采用。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
最xiao测量面积0.002m㎡ 最深凹槽20mm以上镀层厚度分析仪测量原理与仪器
一. 磁吸力测量原理镀层厚度分析仪
磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系,这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪,只要覆层与基材的导磁率之差足够大,首饰电镀测厚仪,就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型,所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢,接力簧,标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后,将测量簧在其后逐渐拉长,拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力,磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源,测量前无须校准,价格也较低,很适合车间做现场质量控制。
二. 磁感应测量原理镀层厚度分析仪
采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,光谱测厚仪,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达到0.1um,允许误差达1%,量程达10mm。磁性原理测厚仪可应用来测量钢铁表面的油漆层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,以及化工石油待业的各种防腐涂层。
三. 电涡流测量原理镀层厚度分析仪
高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,量程10mm的高水平。
采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,通过校准同样也可测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体,但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。