电镀膜厚测试仪-一六仪器-膜厚仪

江苏一六仪器   专业涂层镀层厚度检测   各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎咨询联系！

X射线荧光镀层测厚仪

技术参数

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，x射线膜厚仪，24种元素

厚度最di检出限：0.005um

最xiao测量面积:0.002m㎡

对焦距离：0-90（测试凹槽，电镀膜厚测试仪，可变焦）

样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

仪器尺寸：550mm*480mm*470mm

仪器重量：55kg

仪器配置

微聚焦X射线装置

信号放大器

微型移动滑轨

十二元素片

标准片Ni/Fe 5um

标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um

红外测厚仪：

泛用于检测无机涂层、超薄涂层和复合薄膜的仪器，主要用于钢板上氧化表膜的厚度检测如SiO2、磷化物；薄膜上聚硅酮涂层厚度检测及复合薄膜的各层厚度检测等。

代表机型 : DJH系列 RX-210，RX-400

红外测厚仪特点

1、与X射线比较设备价格低；

2、测量厚度范围广， 0~40mm左右，但只能测试单层膜厚。3、测量误差大，膜厚仪，5%左右，分辨率0.1um以上。

4、测头的面积偏大，对需测的样品要求高：须有较大的平面用来测试（20mmψ左右），但可配备购买多种测头，面对不同的形状和材质需进行校正

江苏一六仪器   线路板PC板类镀层分析通用型测厚仪 X

技术参数

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度最di检出限：0.005um

膜厚仪测试时有关辐射安全注意事项

幅射安全方面膜厚仪由于使用X射线管而产生辐射。测量头的设计完全符合国际X射线安全要求：1.测量头控制台上的一个钥匙开关通过打开或关闭X射线管上的高压决定X幅射的产生与否；2.一个多级故障自动保险互锁系统可控制X幅射的产生，从而有效保护操作者的安全；3.如果测量门没有完全关闭，X幅射就不会进入测量室；4.足够的遮罩用来减小外部的幅射量。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、先进的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

为了确保膜厚仪的安全操作，必须注意以下几点：

1.始终按照操作手册的要求操作膜厚仪；

2.不要损坏安全互锁系统的任何元件，例如微动开关等等；

3.不要对膜厚仪做任何改变。