测厚仪-江苏一六仪器有限公司-电镀膜厚仪

江苏一六仪器    专业测厚仪   多道脉冲分析采集    先进EFP算法

膜厚仪又名膜厚测试仪分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。

手持式的磁感应原理是，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。

台式的荧光X射线膜厚仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，测厚仪，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

江苏一六仪器  X射线荧光光谱测厚仪研发生产厂  一六仪器一liu品质  可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟，欢迎来电咨询!

性能优势：

   下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

   无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

   微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

   率的jie shou qi：即使测试0.01mm2以下的样品，电镀膜厚仪，几秒钟也能达到稳定性。

   EFP先进算法软件：多层多元素，镀层膜厚仪，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

激光测厚仪的技术指标介绍

   激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。

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X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些

首先，是X射线的高压控制箱会对测量的精度造成一定的影响。X射线测厚仪的测量原理就是通过施加高压电源出X射线，通过X射线的穿透物体时的衰减量来测量被测物体的厚度。但是高压控制箱的安装位置会对测厚仪的准确度造成一定的影响。安装的位置不当就会使测量的精度不准确波动比较明显。另外，X射线本身的衰减也会影响测厚仪的测量精度。