芯片缺陷检测仪-彤光科技-芯片缺陷检测
视觉是一种前沿学科，芯片缺陷检测是根据人眼识别的原理，通过硬件（相机、镜头、光源、电脑）与软件的结合，实现设备的自动化、智能化。其要点是硬件与软件的结合。视觉软件也是在不断验证和完善的循环中螺旋上升，完全切合应用场景，彤光电子是专门从事研发生产芯片缺陷检测的企业，需要芯片缺陷检测的朋友可以来电咨询，我们会竭诚为您服务。
电测可以代替芯片缺陷检测吗？
电测不可以替代芯片缺陷检测，AOI检测在过程管理中充分发挥主导作用。先，电检测的模和工装夹具十分价格昂贵，一般每一个批号的PCB都需要做一套模和工装夹具，假如生产制造大批量大的印刷线路板还能够接纳好几套模的运用，但假如对PCB路线开展事后调节或改动，全套模和工装夹具都需要再次制做。次之，伴随着PCB的叠加层数愈来愈多，假如每一层都需要电测得话，模和工装夹具也是必须多倍的提升。
AOI全自动光学检测仪器较大的优势便是能够 替代之前SMT炉外、炉后的人力目检工作，并且能够 比人的眼睛更的分辨出SMT的打件拼装缺陷。但就好似人的眼睛一般，AOI大部分也仅能实行物品的表层查验，因此只需是物品表层上能看获得的样子，它都能够恰当准确无误的查验出去，但针对藏在零件下边或者零件边沿的点焊很有可能能力有限，自然现在有很多的芯片缺陷检测早已能够 作到多方位的拍摄来提升其对IC脚翘的验出工作能力，并提升一些被遮掩元器件的拍摄视角，以给予大量的诊断率。
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