材料成分分析

目的：
    材料成分、特性与结构往往主宰着宏观世界里的物质特性, 因此在新材料开发阶段或是失效分析领域中材料分析皆扮演着重要的地位。通过材料成分分析可以解决如下问题：
1）判断材料是否符合原材料标准要求
2）鉴定不同批次材料成分是否相同
3）区分外观相似的材料等等

4）判断所使用材料是否符合行业、国家标准的要求

服务项目：

1. 金属材料分析：
    金属材料的外观与光泽等具有相似性，但性能却甚有差异。金属材料分析主要是利用仪器分析的方法，对材料进行定性或者定量分析。通过定量分析，可以区分不同批次材料之间的差别，可以鉴别各种材料的牌号，以确保所使用材料符合生产要求，减少产品质量问题。

常用测试方法与仪器

  电感耦合等离子体原子发射光谱仪（ICP-OES）

    火花直读光谱仪

    原子吸收光谱

    红外碳/硫分析仪

电位电解仪

电位滴定法

重量法

2.有机材料分析：
    有机材料分析主要指高分子材料成分分析，包括高分子主成分、填料、增塑剂及树脂等成分的定性与半定量分析。部分有机溶剂、油漆、油墨及涂料的分析也很常见。

常用测试方法与仪器

    傅立叶变换红外光谱仪（FTIR）

    裂解/气相色谱/质谱联用仪（PY-GC-MS）

    高效液相色谱仪(HPLC

    热重分析仪(TGA)

    扫描电子显微镜/X射线能谱仪(SEM/EDS)

    紫外分光光度计(UV-Vis)

材料成分分析流程介绍

3.技术服务：
   为满足企业研发、生产及应对各类法规等需求，我们将为企业提供材料双向分析、全球化学物质管理及物质信息传递等全方位的测试、咨询与培训服务。
其中包括：
1）异物来源分析
2）双向分析
3）其它材料成分分析
4）其它技术服务与咨询

表面形貌及成分分析

    通过分析样品的表面/或近表面来表征材料。基于您所需要的资料,我们可以为您的项目选择最佳的分析技术。 我们的绝大部分的技术使用固体样品，有时会用少的液体样品来获取固体表面的化学信息。在许多情况下材料表征和表面分析是很好的选择，绝大大部分属于两类:

1）已知自己拥有什么样的材料，但是想要更多关于具体性能的信息，比如界面锐度、剖面分布、形态、晶体结构、厚度、应力以及质量。

2）您有对之不是完全了解的材料，想找出有关它的成份、沾污、残留物、界面层、杂质等。

光学显微镜(OM)检查

技术原理：

光学显微镜的成像原理，是利用可见光照射在试片表面造成局部散射或反射来形成不同的对比，然而因为可见光的波长高达 4000-7000埃，在分辨率 (或谓鉴别率、解像能，指两点能被分辨的最近距离) 的考虑上，自然是最差的。在一般的操作下，由于肉眼的鉴别率仅有0.2 mm，当光学显微镜的最佳分辨率只有0.2 um 时，理论上的最高放大倍率只有1000 X，放大倍率有限，但视野却反而是各种成像系统中最大的，这说明了光学显微镜的观察事实上仍能提供许多初步的结构数据。

             显微镜

应用范围主要优点

光学显微镜的放大倍率及分辨率，虽无法满足许多材料表面观察之需求，但仍广泛应用于下列之各项应用，例如：

1）PCB表面质量及可焊性测试检查

2）PCBA、电子元器件金相切片观察、染色实验检查

2）IC开封后观察

3）金属材料金相分析、晶粒度检查、孔隙率检查、非金属夹杂物检查、断口观察

4）涂/镀层厚度测量

激光共聚焦显微镜(CLSM)

    激光扫描显微镜，可通过彩色处理系统获得与电子扫描显微镜相媲美的图像，实现非接触式 3D 测量。并且不用花费大量的人力和时间就可轻松快捷的操作。也不需要对物体预先进行蒸金、切断、拆卸等预处理。

    作为测量机器最重要的是起决定性功能的分辨率，它决定“能准确测量到何种程度”。 激光共聚焦显微镜以1nm 分辨率的良好口啤，能进行远远优于传统的高精度测量。

激光共聚焦显微镜原理图

激光共聚焦显微镜原理图

应用范围

? 轮廓测量-高度测量，宽度测量，横截面测量，形状角度测量，R 值测量

? 粗糙度测量-线条粗糙度测量，表面粗糙度测量

? 3D 测量-体积测量，表面积测量，面积 ：表面积之比*测量

? 自动宽度测量-自动宽度测量，自动高度测量

? 比较测量-对两个物体进行比较，可测量出差异。

? 2D + 3D 测量-在 2D 和 3D 图像上，可设定测量部分。

高度、宽度和横截面测量    线条粗糙度测量    体积测量

高度、宽度和横截面测量

线条粗糙度测量

体积测量

自动宽度测量    轮廓比较测量    2D + 3D 测量

自动宽度测量

轮廓比较测量

2D + 3D 测量

 X射线荧光分析(XRF)

X射线荧光分析(XRF)

    X射线荧光分析(XRF)是一种用于量化固态和液态样品的元素组成的非破坏性的技术。X射线被用于激发样品上的原子，使之放射出带有存在的每种元素能量特征的X射线。然后测量这些X射线的能量及强度。XRF能够探测浓度范围从PPM到100% 的Na-U元素。通过使用适当的参考标准, XRF可以准确的量化固态和液态样品的元素组成。 通过使用适当的参考标准, XRF可以准确的量化固态和液态样品的元素组成。

应用范围主要优点技术参数

 XRF应用：

? 定性、半定量元素分析

? 测量达到几个微米的金属薄膜的厚度

? 金属合金的鉴定

XRF应用优点：

? 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。

? 非破坏性分析

? 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析

? X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。

XRF应用局限性：

? 不能探测比Na轻的元素

? 难于作绝对分析，故定量分析需要标样

? 无剖面成像能力

? 容易受相互元素干扰和叠加峰影响

? 能分析试样深度为10 μm至30 μm

表面形貌及成分分析

    通过分析样品的表面/或近表面来表征材料。基于您所需要的资料,我们可以为您的项目选择最佳的分析技术。 我们的绝大部分的技术使用固体样品，有时会用少的液体样品来获取固体表面的化学信息。在许多情况下材料表征和表面分析是很好的选择，绝大大部分属于两类: 
1）已知自己拥有什么样的材料，但是想要更多关于具体性能的信息，比如界面锐度、剖面分布、形态、晶体结构、厚度、应力以及质量。
2）您有对之不是完全了解的材料，想找出有关它的成份、沾污、残留物、界面层、杂质等。