湖北武汉十堰宜昌襄阳黄石颗粒图像分析仪

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第 15 年

产品详情（武汉市颗粒图像分析仪厂家）

技术参数
测量范围：90 - 13,200?m
测量技术：单色CCD图像分析技术
重复性：误差≤1.5%，分析精度：30通道
扫描速度：60循环/10秒
测量时间：1-9,999秒，用户可选
直接干粉进样分析，样品可回收
实时图像处理，操作直观方便
报告形式：体积/数量粒度分布，等效圆形面积直径，椭圆长短径比，椭圆长/短轴长，圆度等

主要特点
﹡ 专利Tri-Laser激光系统, 完全消除了不同波长光源对颗粒散射光分布“连接点”的影响和
多次米氏理论（Mie Theory）数学处理的误差（米氏理论处理与波长有关）。
﹡ 固定多元检测器与三激光光源的灵巧配置，无需扫描，同步接受全量程散射光信号，保证分
析结果的高重现性及全量程范围的高分辨率。
﹡ 首家引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因子，内置常用分析物质光学数据库，
提高颗粒粒度分布测试的准确性。
﹡ 系统自动对光，内置辅助光源用于检验和校正检测器的灵敏度。
﹡ 多种样品分散系统可供选择，各种分散系统之间的转换简单方便，结果稳定一致。
﹡ 现代模块式设计，可根据实际应用需要允许选择仪器的配置，以满足将来的任何需要。
﹡ 数据处理灵活方便，体积分布，数量分布和强度分布，微分与累计百分比以及其他综合报告
形式任意组合，数据存储兼容性强。
﹡ NIST(National Institute of Standards & Technology)标准物质指定认证仪器。

仪器介绍
美国Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析仪，原理上采用经典静态光散射技术和全程米氏理论处理，利用现代模块式设计理念，使用获得专利的三激光光源技术，配备超大角度双镜头检测系统，以对数方式排列151个高灵敏度检测单元，无需扫描，平行通道实时接受散射光信息，提供准确可靠的测量信息。多种分散方式可选，干法与湿法测量之间的转换，系统自动识别，方便快捷。S3500系列仪器完全符合ISO 13320-1粒度分析－激光衍射方法的技术标准及21 CFR PART 11 安全要求，并被荣幸地指定为NIST标准物质认证仪器。

(武汉市颗粒图像分析仪厂家)
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