清洁度检测系统CCM-200C

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上海市

上海蔡康内窥镜事业部

普通会员

第 14 年

产品详情（上海市清洁度检测系统CCM-200C厂家）

品牌：其他

型号： CCM-200C

类型：光学显微镜

目镜放大倍数： 10x

物镜放大倍数： 5x

仪器放大倍数： 8-50x

重量： 23kg

适用范围：清洁度检测

装箱数： 1

加工定制：是

关键词：上海市清洁度检测系统CCM-200C厂家

清洁度检测系统CCM-200C(全自动清洁度分析仪）

一：蔡康清洁度检测仪概述和微孔滤膜法测定清洁度：

A.蔡康CCM-200C普通型清洁度检测系统对清洗过滤后得到的滤有残渣的滤纸，通过显微镜法观察和测定残渣颗粒的大小，与CCM-100C型的清洁度检测系统的差别在CCM-200C型是智能型，可以通过电脑任何控制平台，因此对于需要精准计算机控制的可以采用CCM-200C,而一般清洁度要求不是非常高的，如检测最大颗粒，或者颗粒较大而且数量不多可以采用CCM-100C手动型。
蔡康清洁度检测系统的特点：
1）光学系统采用平行光系统，视场范围大，景深宽，设计考虑到防尘，防油，防水，防霉，日常维护少。
2）蔡康清洁度检测系统可以直接连接计算机，直接在计算机上进行操控，观察，测量。
3）本系统可采取动态测量，颗粒轮廓动态显示，定制化数据报告，图文并茂。

清洁度检测仪CCM-300C

B.清洁前准备工作（清洗与称重）：
1)引用标准：IS0/16232、VDA/19、ISO4406/4407、GB/T 3821-2005《中小功率内燃机清洁度测定方法》
2）使用设备：10L不锈钢压力罐、真空压力泵、、砂芯抽滤瓶、电热鼓风干燥箱、通风柜、电子天平（0.1mg）
3）化学清洗剂：NY120溶剂油、无/水乙/醇、95%乙/醇、蒸馏水或脱矿物质水、AP760等；
4）过滤膜：依据所选用清洗溶剂不同，常用的滤膜材质有：尼龙膜（NYL）、聚四氟乙烯膜（PTFE）、混合纤维素脂膜（MCE）、聚碳酸酯膜（PC）等；0.45μm——用于初始溶剂过滤及喷抢管路溶剂过滤；5、8、10、20μm——用于清洗后颗粒过滤；
5）操作步骤：
先将浸泡过的空白滤膜放入培养皿中烘箱内，烘干后置于干燥皿中自然冷却称重，最后记录空白滤膜及培养皿的重量。
清洁度检测工作包括抽样、解体、清洗、过滤、烘干、分析等内容，工作程序如下图所示。

（1）清洗：将工件置于清洗槽上方，将烧杯的接收器置于洗槽漏斗下方，收集所有的清洗液。打开通风装置及加压装置，手持喷抢开始对工件指定位置进行清洗（清洗过程应避免清洗液溅出槽外）。使用完毕后，继续开喷抢将罐内剩余清洗液全部压出
（2）过滤：将专用滤膜放在滤杯与砂芯之间夹紧，将待过滤的溶剂倒入滤杯内。过滤应尽可能抽干清洗液，以减少烘干恒重时间，同时防止膜面残留挥发性清洗液过多而导致烘干时发生危险。
（3）烘干：将滤膜连同滤出的杂质一起放入培养皿中，放入烘箱内烘干，结束后置于干燥皿中自然冷却后称重两次。
（4）称量：将经过烘干冷却的带有杂质滤膜的培养皿放在天平上称量，读数精准到
0.1mg；解体过程中的收集的异物也需进行称重。过滤后的滤膜与空白滤膜的重量差即为工件杂质重量。
（5）清洁度分析：将待检滤膜使用滤膜夹具置于电动平台上，依据相关检测标准中要求的颗粒大小，选用适合的放大倍率及检测标准。设定扫描区域后，系统自动进行滤膜扫描拼图，并依据标准对颗粒进行自动分析统计，集成的报告工具自动生成基于标准或客户模板的标准文档。
备注（显微颗粒计数法）：ISO/16232、VDA/19标准中关于显微颗粒计数法做相关的介绍说明。首先先来一起了解相关显微计数法的基本原理：依据ISO/16232标准中所规定的方法，对从测试部件上清洗颗粒所用的清洗液在滤膜过滤器上进行过滤，然后用显微技术对分离的颗粒进行计数和粒度分析。

(上海市清洁度检测系统CCM-200C厂家)
清洁度检测系统CCM-200C